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    題名: Experiment and Simulation in Design of the Board-Level Drop Testing Tower Apparatus
    作者: 陳精一
    Chen, Ching-I
    貢獻者: 機械工程學系
    Mechanical Engineering
    關鍵詞: JESD22-B111;Drop Test;Impact Shock;Peak
    日期: 2012
    上傳時間: 2014-06-27 02:39:16 (UTC+8)
    摘要: Solder joint reliability is of great concern to semiconductor and electronic
    product manufacturers. Due to rapid advancements in the electronic industry,
    packages with fine pitch ball grid array have been increasingly used in portable
    electronic devices.
    顯示於類別:[機械工程學系] 期刊論文

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