题名: | 封裝效應對應變矽MOSFET之應力分析 |
作者: | 陳精一 Chen, Ching-I |
贡献者: | 機械工程學系 Mechanical Engineering |
关键词: | 有限元素法;應變工程;封裝效應 有限元素法;應變工程;封裝效應 |
日期: | 2008 |
上传时间: | 2014-06-27 03:03:13 (UTC+8) |
摘要: | 隨著科技的進步,為了持續提升晶片效能,以往藉由將晶片上之電晶體元件結構縮微的方式,如今受限於物理極限,已陷入瓶頸,為了能夠持續增加晶片的效能,於是發展出應變工程技術。應變工程藉由對電子通道處施加應力(應變),藉以增加載子遷移率的方式來增強半導體元件效能,如此能夠不需將電晶體元件結構縮微,卻仍能持續增加晶片的效能。而在封裝效應部分,隨著、輕、薄、短、小的發展方向,封裝效應對於晶片的影響日益顯著,使得封裝應力對於晶片中之low-k層的效應逐漸受到重視,本研究更進一步探討,封裝應力對於應變矽金氧半場效電晶體之應 隨著科技的進步,為了持續提升晶片效能,以往藉由將晶片上之電晶體元件結構縮微的方式,如今受限於物理極限,已陷入瓶頸,為了能夠持續增加晶片的效能,於是發展出應變工程技術。應變工程藉由對電子通道處施加應力(應變),藉以增加載子遷移率的方式來增強半導體元件效能,如此能夠不需將電晶體元件結構縮微,卻仍能持續增加晶片的效能。而在封裝效應部分,隨著、輕、薄、短、小的發展方向,封裝效應對於晶片的影響日益顯著,使得封裝應力對於晶片中之low-k層的效應逐漸受到重視,本研究更進一步探討,封裝應力對於應變矽金氧半場效電晶體之應 |
显示于类别: | [Department of Mechanical Engineering] Seminar papers
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