以線掃瞄為基之光碟片表面瑕疵檢測系統

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題名:	以線掃瞄為基之光碟片表面瑕疵檢測系統
作者:	邱奕契 Chiou, Yih-Chih
貢獻者:	機械工程學系 Mechanical Engineering
關鍵詞:	自動光學檢測;瑕疵偵測;分類;光碟片;亮場成像自動光學檢測;瑕疵偵測;分類;光碟片;亮場成像
日期:	2007
上傳時間:	2014-06-27 02:57:52 (UTC+8)
摘要:	光碟產業使用許多價格昂貴的自動光學檢測 (Automatic Optical Inspection • AOI)設備以確保光碟品質，然而多數AOI 設備都是仰賴進口。除此之外，並沒有任何一套設備可以將瑕疵品進一步做分級的工作。有鑑於此，本研究發展一套以線掃瞄取像技術為基礎之光碟片瑕疵偵測與分級系統，冀望能夠降低光碟製造業者購置AOI 設備的成本，以提高產業的競爭力。為了達成上述目標，本研究分兩階段進行。第一階段為硬體設備的規劃，其首要目標是將出現在光碟上的所有瑕疵完整且真實的呈現出來。本階段是本研究成敗的光碟產業使用許多價格昂貴的自動光學檢測 (Automatic Optical Inspection • AOI)設備以確保光碟品質，然而多數AOI 設備都是仰賴進口。除此之外，並沒有任何一套設備可以將瑕疵品進一步做分級的工作。有鑑於此，本研究發展一套以線掃瞄取像技術為基礎之光碟片瑕疵偵測與分級系統，冀望能夠降低光碟製造業者購置AOI 設備的成本，以提高產業的競爭力。為了達成上述目標，本研究分兩階段進行。第一階段為硬體設備的規劃，其首要目標是將出現在光碟上的所有瑕疵完整且真實的呈現出來。本階段是本研究成敗的
顯示於類別:	[機械工程學系] 研討會論文

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