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    題名: Characterization of Rapid Thermal and Micro-wave Annealed Germanium Thin Films Grown by E-beam Evaporation on Glass Substrates
    作者: 賴瓊惠
    Lai, Chiung-Hui
    貢獻者: 電子工程學系
    Electronics Engineering
    關鍵詞: Electron Beam;e-beam;evaporation;poly-germanium;poly-Ge;thin film;amorphous
    日期: 2012
    上傳時間: 2014-06-27 02:31:12 (UTC+8)
    摘要: In this paper, we used the electron beam (e-beam) evaporation to deposit Ge thin film on glass, and used microwave annealing (MWA) system of 5.8 GHz frequency for thin film crystallization. Then, we compared the MWA experiment results of sample sheet resi
    顯示於類別:[電子工程學系] 研討會論文

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